Hellma的產品范圍涵蓋了分子光譜學最重要的領域，包括紫外（UV）、可見光（vis）、中紅外（IR）、熒光和拉曼光譜。

　　1、Hellma實驗室探頭

　　傳統上，大多數分析技術都是從實驗室開始的。使用光譜方法具有幾個優(yōu)點，例如多參數分析，易于處理，時間效率等。Hellma探頭根據其測量原理進行命名和區(qū)分。

　　2、實驗室用紫外/可見光和近紅外探頭

　　Hellma實驗室探頭有助于使光譜學更靈活、更易于操作。它們通過光纖電纜或通用適配器直接連接到分光光度計。

　　3、實驗室使用的中紅外探頭

　　此類Hellma探針由Axiom-Analytical開發(fā)。這些探頭采用無光纖設計，因此具有長期穩(wěn)定性和高光度精度。紅外探頭基于ATR技術

　　4、用于拉曼光譜的實驗室探頭

　　拉曼光譜融合了中紅外和近紅外光譜的一些優(yōu)點。通過在產品組合中添加拉曼光譜探頭，Hellma擴大了實驗室和過程應用的可能解決方案范圍。

　　產品根據其測量原理進行區(qū)分：

　　①傳輸

　　使用透射探頭或測量池時，樣品僅被測量信號穿透一次。樣品特異性吸收會改變透射光譜。該測量原理與傳輸比色皿中的測量相當，適用于氣體和透明液體的測量。

　　②透反射

　　透反射是透射光譜和反射光譜的混合體。光線穿過樣品材料，被反射器反射，然后第二次穿過樣品。透反射光譜可以很容易地與透射光譜進行比較，適用于氣體和液體的測量。由于有反射器，測量間隙可以更容易地改變。對于許多類型的探頭，可以使用可更換的使光路適應應用。

　　③反射

　　進行反射測量時，入射光穿透樣品表面并被漫反射。部分反射光被一根或多根光纖收集并引導至檢測器。反射測量適用于粉狀、顆粒狀固體、漿狀和糊狀物的測量。

　　④ATR

　　ATR代表衰減全反射。介質圍繞探頭的棱鏡循環(huán)，并且取決于介質的光密度;測量信號隨著介質和棱鏡之間邊界層（倏逝場）的每次反射而衰減。

　　ATR探頭用于高吸收性樣品，其中不可能使用透射探頭進行測量，因為會發(fā)生吸收。（例如，染料）。

　　⑤熒光

　　熒光測量是一種發(fā)射測量。介質被入射光激發(fā)，并在所有空間方向上發(fā)射低能量的光（熒光輻射）。為了實現激發(fā)和熒光輻射的最佳分離，熒光輻射與入射輻射成直角檢測。探頭的圓柱形反射器將從樣品空間發(fā)出的激發(fā)光反射回中心。樣品空間中的平面鏡用于增加熒光的產量。